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(单选题)

沾污引起的电学缺陷引起(),硅片上的管芯报废以及很高的芯片制造成本。

A不会影响成品率

B晶圆缺陷

C成品率损失

D晶圆损失

正确答案

来源:www.examk.com

答案解析

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